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產(chǎn)品名稱: U-SMPS 2050 X / 2100 X /2200 X 通用掃描遷移率粒度儀
上市日期:2021-03-17

集成X射線電離功能的通用掃描遷移率粒度儀

適用于8 ? 1200 nm的各種應(yīng)用


集成X射線電離功能的通用掃描遷移率粒度儀

適用于8 ? 1200 nm的各種應(yīng)用

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U-SMPS 2050 X / 2100 X /2200 X 通用掃描遷移率粒度儀

圖1:U-SMPS 2050X / 2100X / 2200X

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Palas? 通用掃描遷移率粒徑譜儀(U-SMPS)可提供兩種版本。長分類柱(2050X / 2100X / 2200X 型號)可以確定 8 至 1200 nm 的粒徑分布。該系列已經(jīng)集成了 X 射線源作為中和器(參見圖 1),代替放射性中和器(例如使用 Kr-85),優(yōu)點(diǎn)是在運(yùn)輸過程中無需遵循針對放射源的要求。Palas?U-SMPS 系統(tǒng)包括一個(gè)分類器 [ 在 ISO15900 中定義為電遷移率分級器(DEMC),也稱為微分遷移率分析儀(DMA)],可根據(jù)氣溶膠顆粒的電遷移率選擇相應(yīng)的氣溶膠顆粒并傳送到出口。然后通過冷凝顆粒計(jì)數(shù)器(例如 UF-CPC)對這些顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)。三種可用的 UF-CPC 型號可在各種濃度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)單顆粒計(jì)數(shù)。 Palas 使用了由 Wiedensohler 教授(IfTLeipzig,德國)開發(fā)的演算算法,將測量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為 U-SMPS 的顆粒分布。U-SMPS 使用圖形化用戶界面并在觸摸屏上進(jìn)行操作。一次粒子分布掃描可以在短短 30 秒之內(nèi)執(zhí)行,并且每十進(jìn)制多達(dá) 64 個(gè)尺寸通道。在掃描期間,DEMC 分類器中的電壓連續(xù)變化,從而導(dǎo)致每個(gè)尺寸通道的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)效率更高。集成的數(shù)據(jù)記錄器允許在設(shè)備上設(shè)置線性或?qū)?shù)顯示測量值。隨附的評估軟件可提供各種數(shù)據(jù)評估(各種統(tǒng)計(jì)和平均值),以及導(dǎo)出功能。U-SMPS 通常作為獨(dú)立設(shè)備運(yùn)行,但也可以連接到計(jì)算機(jī)或使用各種接口(USB, LAN,WLAN,RS-232 / 485)連接網(wǎng)絡(luò)。 Palas?U-SMPS 支持 DMA,CPC 和其他制造商的氣溶膠靜電計(jì)。 U-SMPS 對顆粒物準(zhǔn)確的尺寸確定和可靠性能極其重要,尤其是對于校準(zhǔn)來說。所有組件都必須通過嚴(yán)格的質(zhì)量保證測試,并且必須內(nèi)部組裝。 圖 2 給出了U-SMPS 的工作原理:氣溶膠在進(jìn)入分類器(DEMC)之前先經(jīng)過調(diào)節(jié)。 選配的干燥器(例如硅膠,Na?on)可以去除顆粒中的水分。 雙極中和劑(XRC 049)用于確保氣溶膠電荷分布符合預(yù)定。 在 DEMC 的入口處需要一個(gè)撞擊器以去除大于分類器尺寸范圍的顆粒。

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U-SMPS 2050 X / 2100 X /2200 X 通用掃描遷移率粒度儀

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圖 2:掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)的工作原理。氣溶膠通過 DEMC 柱的進(jìn)樣口導(dǎo)入,沿著外部電極與鞘氣合并。合并過程要避免湍流,確保層流。電極的表面必須極其光滑和精準(zhǔn)。該鞘氣是干燥的、無顆粒的載氣(通常為空氣),比氣溶膠的體積大,且在閉環(huán)中連續(xù)循環(huán)。鞘氣與樣品空氣的體積比決定了傳遞效率,從而決定尺寸分類器的分辨率。在內(nèi)部和外部電極之間施加電壓產(chǎn)生徑向?qū)ΨQ電場。內(nèi)電極帶正電,末端有一個(gè)小縫隙。通過平衡每個(gè)粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學(xué)阻力,帶負(fù)電顆粒轉(zhuǎn)移到正電極。根據(jù)它們的電遷移率,一些顆粒會通過頂部小縫隙離開 DEMC。在操作中,電壓產(chǎn)生的電場持續(xù)變化,使得不同遷移率的顆粒離開 DEMC,并由納米粒子計(jì)數(shù)器(例如冷凝粒子計(jì)數(shù)器)連續(xù)測量計(jì)數(shù)(例如 Palas?UF-CPC)。方便實(shí)用的軟件提供多數(shù)據(jù)信息(如電壓,粒子數(shù)等)并取得粒度分布數(shù)據(jù),如圖 3 所示。

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U-SMPS 2050 X / 2100 X /2200 X 通用掃描遷移率粒度儀

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圖 3:Palas?DNP3000 顆粒發(fā)生器產(chǎn)生的氣溶膠的粒徑分布。基于客戶反饋優(yōu)化過的用戶界面和軟件可以進(jìn)行直觀的操作、實(shí)時(shí)控制并顯示測量數(shù)據(jù)和參數(shù)。 此外,通過集成的數(shù)據(jù)記錄器、完善的導(dǎo)出功能和網(wǎng)絡(luò)連接,該軟件可以實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)管理功能。 測量數(shù)據(jù)有多種形式顯示和評估。 可用的系統(tǒng):下面的文檔介紹了 DEMC 和 Palas? 提供的計(jì)數(shù)器的各種組合。其他制造商提供的大多數(shù) DMA,CPC和氣溶膠靜電計(jì)都可以用作 U-SMPS 系統(tǒng)的組件。

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優(yōu)點(diǎn):

粒徑分布范圍為 8nm 至 1.2μm

連續(xù)快速掃描測量原理

高分辨率,最多 128 個(gè)尺寸通道 / 十進(jìn)制適用于最高 108 顆粒 / cm3 的濃度

跟其他制造商的 DMA 和納米顆粒計(jì)數(shù)器通用圖形顯示測量結(jié)果

7 英寸觸摸屏和 GUI 直觀操作內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄儀

支持多種接口和遠(yuǎn)程訪問

低維護(hù)

功能可靠

減少您的運(yùn)營費(fèi)用

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U-SMPS 2050 X / 2100 X /2200 X 通用掃描遷移率粒度儀

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應(yīng)用領(lǐng)域:

過濾測試

氣溶膠研究

環(huán)境與氣候研究吸入實(shí)驗(yàn)

室內(nèi)和工作場所測量

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生產(chǎn)廠家:德國Palas


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